X光鍍層測厚儀已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節，是產品達到優等質量標準的必要手段。為使產品化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。X射線是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。X射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業和科研使用廣泛的測厚儀器。

　　優勢和特點：

　　X光鍍層測厚儀擁有超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測速度、超人性化界面，易于使用，一鍵操作，即可獲得鍍層厚度及組成成份的分析結。有助于識別鍍層成分的創新型功能。機身結構小巧結實，外形十分漂亮，適合放置于陳列展室。按下按鈕的數秒之內，即可得到有關樣件鍍層厚度的J確結果。使用PC機和軟件，可以迅速方便地制作樣件的檢驗結果證書。用戶通過攝像頭及艙內照明系統，可看到樣件測試位置，提升了用戶測試信心。分析儀測試數據可以下載和上傳網絡，檢測結果易于查看和分享。有X射線防護鎖，只有在封閉狀態下才發射X射線，安全、可靠的保證客戶使用。

 

　　先進的技術：

　　*的 Peltier 電制冷進口檢測器；

　　數字脈沖處理 (DPP) 技術；

　　基本參數 (FP) 無標樣分析方法；

　　高性能、多元素分析。

 

　　功能強大、易于使用的元素分析軟件：

　　無標和半無標分析；

　　基本參數 (FP) 和基于標樣的經驗方法；

　　多層厚度及成分；

　　不限元素、不限數量的標樣；

　　利用自動化操作實現多個激發條件。