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聯系我們X光鍍層測厚儀在日常作業中都應用了哪些原理？
點擊次數：1023 更新時間：2021-03-23
X光鍍層測厚儀是一種用于查看物體厚度的儀器儀表。在工業生產測厚中廣泛運用。這類儀器，根據其測量辦法的不一樣，大致可以劃分為以下幾個種類：運用嶸湎?、馍渚€、y射線穿透特性的放射性厚度計；選用超聲波頻率改動的超聲波厚度計以及選用渦流原理的電渦流厚度計；還有電容式厚度計等。
此外，運用微波和激光技術制成厚度計，現在還處在研發、試驗期間。X光鍍層測厚儀可測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、搪瓷、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導電覆層的厚度（如：搪瓷、橡膠、油漆、塑料等）。既可用于實驗室中的精細測量，也可用于工程現場廣泛地運用在金屬制造業、化工業、航空航天、科研開發等范疇，是企業確保產品質量、商查看控、*的查看儀器。
X光鍍層測厚儀作業原理：
膜厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導電覆蓋層的厚度（如：琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。
1、磁性法：當測量頭與覆蓋層接觸時，測量頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可導出覆蓋層的厚度。
2、渦流法：利用高頻交變電流在線圈中產生一個電磁場，當測量頭與覆蓋層接觸時，金屬基體上產生電渦流，并對測量頭中的線圈產生反饋作用，通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。
