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聯系我們分享！x射線鍍層測厚儀的使用規定
點擊次數：702 更新時間：2023-03-13
隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業和科研使用廣泛的測厚儀器。
1、基體金屬特性：
對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。
2、基體金屬厚度：
檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3中的某種方法進行校準。
3、邊緣效應：
不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。
4、曲率：
不應在試件的彎曲表面上測量。
5、讀數次數：
通常由于儀器的每次讀數并不相同，因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，表面粗造時更應如此。
6、表面清潔度：
測量前，應清潔表面上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產物等，但不要除去任何覆蓋層物質。
