即放即測！

通過自動定位功能，放置樣品后僅需幾秒，便能自動對準觀察樣品焦點。

　

10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量！

以*的設計實現微小區域下的高靈敏度，即使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度地提高膜厚測量的精度。

 

無標樣測量！

將薄膜FP軟件進一步擴充，即使沒有厚度標準物質也能進行高精度的測量。也可簡單地測量多鍍層膜和合金膜樣品。

 

通過廣域觀察系統更方便選擇測量位置！

通過廣域觀察系統，能夠從畫面上的樣品整體圖（zui大250×200mm）中方便地測量位置。

 

對半導體材料、電子元器件、汽車部件等的電鍍、蒸鍍等的金屬薄膜和組成進行測量管理，可保證產品的功能及品質，降低成本。精工從1971年推出非接觸、短時間內可進行高精度測量的X射線鍍層測厚儀以來，已經累計銷售6000多臺，得到了國內外鍍層厚度、金屬薄膜測量領域的高度關注和支持。

 

為了適應日益提高的鍍層厚度測量需求，精工開發了配備有自動定位功能的XX射線鍍層測厚儀。通過自動定位功能，僅需把樣品放置到樣品臺上，就可在數秒內對樣品進行自動對焦。由此，無需進行以往的手動逐次對焦的操作，大大提高了樣品測量的操作性。

 

近年來，隨著檢測零件的微小化，對微區的高精度測量的需求日益增多。X射線鍍層測厚儀實現微區下的高靈敏度，即使在微小準直器(0.1、0.2mm)下，也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。并且，配備有新開發的薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準物質也可進行多達5層10元素的多鍍層和合金膜的測量，可對應更廣泛的應用需求。