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          X射線鍍層測厚儀的測量方法及影響因素是什么
          點擊次數:1148 更新時間:2016-01-12
             X射線鍍層測厚儀適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價廉,是工業和科研使用zui廣泛的測厚儀器。X射線鍍層測厚儀的測量方法有哪些?影響X射線鍍層測厚儀測量的因素是什么?這些都將是本文介紹的內容。

            X射線鍍層測厚儀的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。

            這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。X射線和β射線法是無接觸無損測量,但裝置復雜昂貴,測量范圍較小。因有放射源,X射線鍍層測厚儀使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。

            隨著技術的日益進步,特別是近年來引入微機技術后,采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米,精度可達到1%,有了大幅度的提高。采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材,檢測速度快,能使大量的檢測工作經濟地進行。

            介紹完X射線鍍層測厚儀的測量方法后,再來看看影響X射線鍍層測厚儀測量的因素是什么呢?

            1.基體金屬厚度

            每一種X射線鍍層測厚儀都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響。具體臨界值可以參考表格。

            2.基體金屬磁性質

            磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應用中,低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準;亦可用待涂覆試件進行校準。

            3.基體金屬電性質

            基體金屬的電導率對測量有影響,而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。

            4.邊緣效應

            X射線鍍層測厚儀對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。

            5.曲率

            試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

            所以,X射線鍍層測厚儀的影響因素主要有基體金屬厚度,基體金屬磁性質,基體金屬電性質,邊緣效應和曲率這五個因素。

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