x射線鍍層測(cè)厚儀又叫膜厚儀、膜厚測(cè)試儀、膜厚計(jì)或者鍍層測(cè)厚儀（比如GT810F、GT810NF、GT8102等），可無損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性涂層的厚度，以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層的厚度。x射線鍍層測(cè)厚儀具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測(cè)儀器。

 

　　產(chǎn)品的九大特點(diǎn)：

　　1、操作界面簡(jiǎn)單，測(cè)量方便，快捷 無損檢測(cè)，在無標(biāo)準(zhǔn)樣品時(shí)亦可準(zhǔn)確分析。

　　2、鍍層測(cè)厚儀設(shè)置了自動(dòng)安全防護(hù)開關(guān)，以確保用戶安全使用。

　　3、電控機(jī)蓋升降 采用*雙峰位快速自動(dòng)校準(zhǔn)。

　　4、外觀高貴大方，加大儀器內(nèi)部空間，儀器內(nèi)部通風(fēng)性優(yōu)，并有效屏蔽電磁干擾。

　　5、客戶可根據(jù)自已的要求進(jìn)行二次開發(fā)，自行開發(fā)任意多個(gè)分析方法。

　　6、自動(dòng)譜線識(shí)別、多元素同時(shí)定性定量分析、讓用戶方便認(rèn)識(shí)分析樣品的組成。

　　7、電制冷型的X光管配合光管保養(yǎng)程序，散熱更好，并能有效的延長(zhǎng)X光管的壽命。

　　8、定量分析算法，包含F(xiàn)P法、檢量線法、經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、理論系數(shù)法、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法等。

　　9、同置高清晰攝像頭，可幫助客戶判斷測(cè)量的部位手動(dòng)準(zhǔn)確移動(dòng)平臺(tái)，可輔助客戶微移產(chǎn)品。

　　x射線鍍層測(cè)厚儀的使用注意事項(xiàng)：

　　1、對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似;對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

　　2、檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度。

　　3、不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。

　　4、不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。

　　5、通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。

　　6、測(cè)量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。