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　　X光鍍層測厚儀又叫膜厚儀、膜厚測試儀、膜厚計或者鍍層測厚儀，可無損地測量磁性金屬基體上非磁性涂層的厚度，以及非磁性金屬基體上非導電覆層的厚度。X光鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩定性好、操作簡便等特點，是控制和保證產品質量*的檢測儀器。儀器廣泛運用于工業生產測厚中，包含鋼板厚度、卷皮帶厚度等，當然在實驗室精細測量中也有運用，包含航空航天、科研開發等范疇。

 

　　X光鍍層測厚儀高精度高性價比：

　　1、時尚小巧，便攜易用，可進行在線系統升級，定制化軟件服務；

　　2、可選上位機軟件，具有完善的數據庫功能；

　　3、傳感器采用LEMO接頭，穩定可靠，經久耐用；

　　4、采用7號電池供電，更換隨意概述本儀器是磁性、渦流一體的便攜式覆層測厚儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現場。本儀器能廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域，是材料保護專業*的儀器。本儀器符合以下標準：GB/T4956─1985磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量磁性方法GB/T4957─1985非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流方法JB/T8393─1996磁性和渦流式覆層厚度測量儀JJG889─95《磁阻法測厚儀》JJG818─93《電渦流式測厚儀》。

　　

　　產品優勢：

　　1、對于壓敏膠，涂布/紙加工，煙草薄片，水性涂層，熱熔膠等材料，本產品擁有非接觸測量的優勢；

　　2、在保證測量速度的基礎上，本產品能夠將被測物微小的厚度變化完整地呈現出來；

　　3、本產品能擁有*的重復性，預計GRR能夠達到5%左右。