X射線金屬鍍層測(cè)厚儀是一種對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層進(jìn)行厚度測(cè)量的儀器，測(cè)量的對(duì)象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等。覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的手段。為使產(chǎn)品國(guó)際化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)覆層厚度有了明確的要求。

 

　　應(yīng)用領(lǐng)域：

　　黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)；金屬鍍層的厚度測(cè)量，電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。

 

　　X射線金屬鍍層測(cè)厚儀的突出特點(diǎn)：

　　1、測(cè)頭最小測(cè)量區(qū)域直徑小至7毫米，適合螺釘，螺栓等小工件以及各種異型材料的薄鍍層厚度測(cè)量；

　　2、探頭采用數(shù)字震蕩技術(shù)，高速ADC采集，確保儀器很好的穩(wěn)定性，可測(cè)量超薄涂鍍層；

　　3、具有數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能，自動(dòng)統(tǒng)計(jì)所測(cè)數(shù)據(jù)的最大、最小、平均和方差值；

　　4、采用先進(jìn)的數(shù)字探頭技術(shù)，不易受到干擾并且提供優(yōu)良的測(cè)試精度。即使溫度變化也不會(huì)影響測(cè)量，讀數(shù)仍保持穩(wěn)定，以確保在整個(gè)測(cè)量過(guò)程中非常良好的重復(fù)性；

　　5、支持調(diào)零和多點(diǎn)校準(zhǔn)，可以依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)片或?qū)嶋H工件可修正曲線，使測(cè)量數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確；

　　6、提供專用的手壓測(cè)試機(jī)架供用戶選購(gòu)，可使測(cè)量更加方便，還可消除人為因素帶來(lái)的測(cè)量誤差。

 

　　試驗(yàn)步驟：

　　1、將X射線金屬鍍層測(cè)厚儀與試樣放置在GB2918規(guī)定的23±2℃，45%-55%RH環(huán)境中放置4h后測(cè)量。

　　2、每次測(cè)量前用無(wú)水乙醇擦拭儀器的測(cè)量頭。

　　3、將試樣平放在測(cè)量?jī)x的橡膠板上，使測(cè)量頭與金屬鍍層接觸良好。

　　4、每次測(cè)量前儀器必須校零。

　　5、測(cè)量試樣的電阻值。