測厚儀標準片校正片?

應用于測厚儀校正及程序更新

XRF-2000測厚儀標準片：金,鎳，銅，鋅,鉻，銀,鋅鎳合金：各鍍種標片及范圍通用于所有品牌測厚儀

標準片均附帶證書

適合各種X射線鍍層測厚儀

X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法

是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。以此標準曲線來測量鍍層樣品

以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。 

測厚儀標準片校正片

應用于Micro Pioneer XRF-2000測厚儀校正及程序更新

XRF-2000測厚儀標準片：金,鎳，銅，鋅,鉻，銀,鋅鎳合金：各鍍種標片及范圍通用于所有品牌測厚儀

標準片均附帶標準證書

XRF-2020電鍍層測厚儀

品牌：Micro Pioneer

原產地：韓國

型號：XRF-2020系列

韓國XRF-2020應用領域：

檢測電子電鍍,五金電鍍,PCB板，LED支架等電鍍層厚度。
測量鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等
測量的鍍層范圍:0.03微米～35微米。
可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量，不限底料。

韓國XRF-2020電鍍層測厚儀?精度：

表層：±5%

第二層：±8%

第三層：±15%

測量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等

可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量，不限底料。