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膜厚測試儀韓國XRF-2000測厚儀

快速無損測量電鍍層厚度

原產地：韓國

儀器型號：XRF-2020/XRF-2000

品牌：Micropioneer 微先鋒

性能及特點：快速無損檢測，機器全自動大平臺測試臺面

儀器規格

XRF-2020L型:測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg

XRF-2020H型:測量樣品長寬55cm,高12cm:臺載重5kg

儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量

多個準直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換

Microp XRF-2020測厚儀(韓國微先鋒）

快速無損測量鍍金，鍍銀，鍍錫，鍍銀，鍍鎳，鍍銅，鍍鋅鎳合金等！

測量原理：

物質經X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物質必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。

設備用途：檢測電子電鍍化學鍍層厚度:如測理鍍金,鍍銀,鍍銀,鍍錫,鍍鋅,鍍鋅鎳合金等！

測量范圍：0.02-35um

測量精度：正負5%以內

測量元素范圍：Ti-U

準直器大小可選：0.1mm,0.2mm,0.3mm.0.4mm,方型：0.05X0.3mm

可測單鍍層，雙鍍層，合金鍍層

膜厚測試儀韓國XRF-2000測厚儀