X熒光電鍍層測厚儀韓國XRF-2000

產品功能：

1. 采用

X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層

多鍍層及合金鍍層,不限基材,基材不可與鍍層相同。

1. 鍍層元素范圍：鈦～鈾包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、金，鉻，鋅鎳合金等。

2. 鍍層層數：可測5層。

3. 測量

產品位置尺寸：標準配備0.2mm準直器,測量產品大于0.4mm(可訂制更小準直器)

4. 測量時間：通常15秒。

5. H型號機箱容納樣品尺寸：550 x 550 x 100 mm (長x寬x高)。

6  L型號機箱容納樣品尺寸：550 x 550 x 30 mm (長x寬x高)。

7. 測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。

8. 可測厚度范圍：通常0.01微米到60微米，視樣品組成和鍍層結構而定。

產品參數：

X射線光管 鎢靶，焦斑尺寸0.2-0.8mm

高電壓 50千伏（1毫安）可根據軟件控制優化

探測器 高分辨氣體正比計數探測器

準直器 單一固定準直器直徑0.2mm(可選或訂制其他規格)

全自樣品臺，自動雷射對焦儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量

多個準直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm

可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換

X熒光電鍍層測厚儀韓國XRF-2000

XRF-2020L:測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg

XRF-2020H:測量樣品長寬55cm,高10cm:臺載重5kg