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聯系我們XRF-2000測厚儀一些功能特色說明
點擊次數：1079 更新時間：2017-05-12
XRF-2000測厚儀綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.
XRF-2000測厚儀統計功能:能夠將測量結果進行系統分析統計,方便有效的控制品質.
XRF-2000測厚儀特色：
非破壞，非接觸式檢測分析，快速。
可測量高達六層的鍍層 (五層厚度 + 底材 ) 并可同時分析多種元素。
相容Microsoft微軟作業系統之測量軟體，操作方便，直接可用Office軟體編輯報告 。
全系列*設計樣品與光徑自動對準系統。
標準配備: 溶液分析軟體 ，可以分析電鍍液成份與含量。
準直器口徑多種選擇，0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05*0.4mm
移動方式：全系列全自動載臺電動控制，減少人為視差 。
*2D與3D或任意位置表面量測分析。
雷射對焦，配合CCD攝取影像使用point and shot功能。
標準ROI軟體 搭配內建多種專業報告格式，亦可將數據、圖形、統計等作成完整報告 。
光學2 0X 影像放大功能，更能對位。
